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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 藤居 義和
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Depth profile analysis of surface layers using X-ray diffraction at small glancing angle of incidence
- タイトル(掲載誌)
- X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
- 巻号年月日等(掲載誌)
- (通号 39) 2008.3
- 掲載通号
- 39
- 掲載ページ
- 47~62
- 掲載年月日(W3CDTF)
- 2008-03