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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 小金丸 正明池田 徹宮崎 則幸 他
- 並列タイトル等
- Evaluation of DC characteristics shifts in resin-molded nMOSFETs and examination of electron mobility model for stress effects
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 91(4) (通号 484) 2008.4
- 掲載巻
- 91
- 掲載号
- 4
- 掲載通号
- 484