温度ゆらぎによる配電...

温度ゆらぎによる配電盤母線接続部劣化診断手法の開発

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温度ゆらぎによる配電盤母線接続部劣化診断手法の開発

国立国会図書館請求記号
Z16-1608
国立国会図書館書誌ID
9495916
資料種別
記事
著者
高木 義之ほか
出版者
東京 : 電気学会
出版年
2008-05
資料形態
掲載誌名
電気学会論文誌. D, 産業応用部門誌 = IEEJ transactions on industry applications 128(5) 2008.5
掲載ページ
p.584~587
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
高木 義之
犬島 浩
並列タイトル等
Development of deterioration diagnosis technique for bus joint in switchboards with temperature fluctuation
タイトル(掲載誌)
電気学会論文誌. D, 産業応用部門誌 = IEEJ transactions on industry applications
巻号年月日等(掲載誌)
128(5) 2008.5
掲載巻
128
掲載号
5
掲載ページ
584~587