光電子収量分光法の絶縁物への適用とルブレン薄膜酸化過程のその場観察への応用 (第27回表面科学講演大会論文特集(3))
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 町田 真一中山 泰生石井 久夫
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Charge-up durability and in-situ tracking of a photooxidation process of rubrene studied by photoelectron yield spectroscopy: toward photoelectronic investigation on organic electronics devices
- タイトル（掲載誌）
- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 29(9) 2008.9
- 掲載巻
- 29
- 掲載号
- 9