Simulation analysis of quantum confinement and short-channel effects in independent double-gate metal-oxide-semiconductor fieldeffect transistors

図書館・個人送信サービスを利用する

国立国会図書館デジタルコレクション

国立国会図書館の登録利用者（本登録）の方を対象とした、個人送信サービスで閲覧可能です。ただし、日本国外に居住している場合は、個人送信サービスを利用できません。

利用者登録する >

ログインする >

Simulation analysis of quantum confinement and short-channel effects in independent double-gate metal-oxide-semiconductor fieldeffect transistors

国立国会図書館請求記号: Z53-A375
国立国会図書館書誌ID: 9651939

資料種別: 記事

著者: Mathieu Moreauほか

出版者: Tokyo : The Japan Society of Applied Physics

出版年: 2008-09

資料形態: デジタル

掲載誌名: Japanese journal of applied physics : JJAP 47(9) (1) 2008.9

掲載ページ: p.7013～7018

すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

連携機関・データベースの一覧

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

デジタル

資料種別: 記事
タイトル: Simulation analysis of quantum confinement and short-channel effects in independent double-gate metal-oxide-semiconductor fieldeffect transistors
著者・編者: Mathieu Moreau
Daniela Munteanu
Jean-Luc Autran
著者標目: Mathieu Moreau
Daniela Munteanu
Jean-Luc Autran
タイトル（掲載誌）: Japanese journal of applied physics : JJAP
巻号年月日等（掲載誌）: 47(9) (1) 2008.9
掲載巻: 47
掲載号: 9
その他巻次: 1
掲載ページ: 7013～7018
掲載年月日（W3CDTF）: 2008-09
ISSN（掲載誌）: 0021-4922
ISSN-L（掲載誌）: 0021-4922
出版事項（掲載誌）: Tokyo : The Japan Society of Applied Physics
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: independent double-gate MOSFETs
short-channel effects
quantum confinement effects
numerical simulation
NDLC: ZM35
対象利用者: 一般
コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象
遠隔複写可否（NDL）: 可
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z53-A375
掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11226744
https://dl.ndl.go.jp/pid/11226744
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 9651939
http://id.ndl.go.jp/bib/9651939
整理区分コード: 632