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フリップチップ実装における超音波検査の重要性

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フリップチップ実装における超音波検査の重要性

国立国会図書館請求記号
Z74-E304
国立国会図書館書誌ID
9720927
資料種別
記事
著者
Thomas Adamsほか
出版者
東京 : リード・ビジネス・インフォメーション
出版年
2008-12
資料形態
掲載誌名
Semiconductor international. 日本版 5(12) 2008.12
掲載ページ
p.43~46
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
Thomas Adams
Steve Martell
根本 眞
並列タイトル等
Automated acoustic micro imaging of flip chip assemblies
タイトル(掲載誌)
Semiconductor international. 日本版
巻号年月日等(掲載誌)
5(12) 2008.12
掲載巻
5
掲載号
12
掲載ページ
43~46