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収差補正走査透過電子顕微鏡法を用いた界面研究の新展開 (小特集 極限的な計測技術の最近の動向(2)電子顕微鏡の最近の展開)

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収差補正走査透過電子顕微鏡法を用いた界面研究の新展開(小特集 極限的な計測技術の最近の動向(2)電子顕微鏡の最近の展開)

国立国会図書館請求記号
Z16-474
国立国会図書館書誌ID
9749658
資料種別
記事
著者
幾原 雄一
出版者
東京 : 日本真空協会
出版年
2008-11
資料形態
掲載誌名
Journal of the Vacuum Society of Japan = 真空 51(11) 2008.11
掲載ページ
p.700~706
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
幾原 雄一
著者標目
並列タイトル等
Towards interface studies by Cs-corrected STEM
タイトル(掲載誌)
Journal of the Vacuum Society of Japan = 真空
巻号年月日等(掲載誌)
51(11) 2008.11
掲載巻
51
掲載号
11