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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号108(396)-108(405) 20090100-20090100
記事ハンマリング加振機構...

ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--接触抵抗について(その3) (機構デバイス)

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ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--接触抵抗について(その3)

(機構デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
9793720
資料種別
記事
著者
和田 真一ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2009-01-23
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 108(404) 2009.1.23
掲載ページ
p.15～20
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紙

資料種別
記事
タイトル
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--接触抵抗について(その3)
著者・編者
和田 真一
園田 健人
越田 圭治 他
シリーズタイトル
機構デバイス
著者標目
和田 真一
園田 健人
越田 圭治
並列タイトル等
Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: for contact resistance (3)
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
108(404) 2009.1.23
掲載巻
108
掲載号
404