Deep Image Prior法を用いた空間的不確かさを持つ照明パターン下でのSIM再構成に関する研究

• 資料種別: 記事
• タイトル: Deep Image Prior法を用いた空間的不確かさを持つ照明パターン下でのSIM再構成に関する研究
• 巻次・部編番号: 2024S; 0
• 著者・編者: 浅見 颯斗; 谷田川 達也; 大竹 豊; 長井 超慧; 高橋 哲
• 著者標目: Asami Hayato; 浅見 颯斗; Yatagawa Tatsuya; 谷田川 達也; Ohtake Yutaka; 大竹 豊; Nagai Yukie; 長井 超慧; Takahashi Satoru; 高橋 哲
• 出版年月日等: 2024-02-28
• 出版年（W3CDTF）: 2024-02-28
• 並列タイトル等: SIM Reconstruction under Spatially Ambiguous Illumination Patterns with Deep Image Prior
• タイトル（掲載誌）: 精密工学会学術講演会講演論文集; Proceedings of JSPE Semestrial Meeting
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2024S 0
• 掲載巻: 2024S
• 掲載号: 0
• 掲載ページ: 266-267
• 著者別名: Asami Hayato; Yatagawa Tatsuya; Ohtake Yutaka; Nagai Yukie; Takahashi Satoru
• 件名標目: Super Resolution Technique; Deep Image Prior; Structured Illumination Microscopy; 超解像技術
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.11522/pscjspe.2024S.0_266
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 連携機関・データベース: 科学技術振興機構 : J-STAGE; http://www.jstage.jst.go.jp

• 要約等: <p>構造化照明顕微鏡法（SIM）において，照明パターンの空間的なずれは再構成の品質に大きな悪影響を及ぼす．故に，通常は光学系の精緻なキャリブレーションが必要となる．本研究では，Deep Image Prior法を用いて，照明位置の誤差推定とSIM再構成を同時に実現する手法を確立した．シミュレーショ...