サンビームにおける硬Ｘ線 XAFS ラウンドロビンテスト結果

• 資料種別: 記事
• タイトル: サンビームにおける硬Ｘ線 XAFS ラウンドロビンテスト結果
• 著者標目: 沖 充浩
• 出版年月日等: 2024-08-30
• 出版年（W3CDTF）: 2024-08-30
• タイトル（掲載誌）: SPring-8/SACLA利用研究成果集
• 巻号年月日等（掲載誌）: 12 4
• 掲載巻: 12
• 掲載号: 4
• 掲載ページ: 239-242
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2024-08-30
• 出版事項（掲載誌）: Japan Synchrotron Radiation Research Institute
• 本文の言語コード: ja
• 件名標目: 硬Ｘ線 XAFS; ラウンドロビンテスト; 2020A5440; BL16B2
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.18957/rr.12.4.239; https://doi.org/10.18957/rr.12.4.239
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research; https://cir.nii.ac.jp/
• 提供元機関・データベース: Japan Link Center; https://japanlinkcenter.org/top

• 要約等: SPring-8 の産業用専用ビームライン BL16B2 において、光ビームプラットフォーム事業で進められた硬Ｘ線 XAFS ラウンドロビンテストと同じ試料を借用して測定し、他施設およびビームラインで得られたデータと比較した。5 keV から 30 keV 程度の広い範囲にわたって、良好なスペクトル...