計測技術における研究開発の動向と最前線

• 資料種別: 記事
• タイトル: 計測技術における研究開発の動向と最前線
• 著者標目: 山田 達司; 布施 則一; 高野 聖仁; 野澤 昭雄; 小池 真利子; 大島 誠一郎; 大谷 昭仁
• 出版年月日等: 2025-01-01
• 出版年（W3CDTF）: 2025-01-01
• タイトル（掲載誌）: 電学論Ａ
• 巻号年月日等（掲載誌）: 145 1
• 掲載巻: 145
• 掲載号: 1
• 掲載ページ: 14-16
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2025-01-01
• ISSN（掲載誌）: 03854205
• ISSN-L（掲載誌）: 03854205
• 出版事項（掲載誌）: The Institute of Electrical Engineers of Japan
• 本文の言語コード: ja
• 件名標目: facial skin temperature; effective emissivity; furfural; near infrared spectroscopy; undersampling; QAM (Quadrature Amplitude Modulation) signal; 顔面皮膚温度; 実効放射率; フルフラール; 近赤外分光; アンダーサンプリング; QAM信号
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.1541/ieejfms.145.14; https://doi.org/10.1541/ieejfms.145.14
• 関連情報（URI）: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/145/1/145_14/_pdf
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research; https://cir.nii.ac.jp/
• 提供元機関・データベース: Japan Link Center; https://japanlinkcenter.org/top; Crossref; https://www.crossref.org

• 要約等: <p>The IEEJ Technical Committee on Instrumentation and Measurement has explored key technologies in this field through technical meetings and research...