電子顕微鏡を用いたGaN層中の欠陥構造に関する研究

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資料種別: 博士論文
タイトル: 電子顕微鏡を用いたGaN層中の欠陥構造に関する研究
タイトルよみ: デンシケンビキョウオモチイタ GaN ソウチュウノケッカンコウゾウニカンスルケンキュウ
著者・編者: 松原, 徹
著者標目: 松原, 徹
出版年月日等: 2017
出版年（W3CDTF）: 2017
並列タイトル等: Study of defect structure in GaN layer using electron microscopy
授与機関名: 山口大学
授与年月日: 2017-09-29
報告番号: 理工博甲第729号
学位: 博士(工学)
本文の言語コード: jpn
対象利用者: 一般
記録形式（IMT）: application/pdf
オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 山口大学 : 山口大学学術機関リポジトリYUNOCA