本文に飛ぶ
文書・図像類

X線構造解析装置での有機化合物測定技術の修得(2)

文書・図像類を表すアイコン

X線構造解析装置での有機化合物測定技術の修得(2)

資料種別
文書・図像類
著者
森田, 俊夫ほか
出版者
福井大学工学部技術部
出版年
2005-04-09
資料形態
デジタル
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
すべて見る

書店で探す

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • 福井大学学術機関リポジトリ

    デジタル
    連携先のサイトで、学術機関リポジトリデータベース(IRDB)(機関リポジトリ)が連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

デジタル

資料種別
文書・図像類
著者・編者
森田, 俊夫
下村, 与治
漆崎, 美智遠
出版年月日等
2005-04-09
出版年(W3CDTF)
2005-04-09
タイトル(掲載誌)
技術報告集
巻号年月日等(掲載誌)
10 (2004年度)
掲載巻
10 (2004年度)