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書誌情報
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- 資料種別
- 文書・図像類
- 著者・編者
- KURIHARA, KYANAGAWA, TNAKAGAWA, NFUKUI, KYAMAMOTO, A
- 出版年月日等
- 2008-05
- 出版年(W3CDTF)
- 2008-05
- タイトル(掲載誌)
- INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 51 5
- 掲載巻
- 51
- 掲載号
- 5
- 掲載ページ
- 482-484
- ISSN(掲載誌)
- ISSN : 1350-4495
- 本文の言語コード
- eng
- 対象利用者
- 一般
- 一般注記
- 出版タイプ: AOTo investigate both the optical and electrical properties of InN, we have measured the infrared reflectance spectra of InN thin films and performed the fitting analyses of the infrared spectra to obtain not only phonon frequencies and the damping factors but also the carrier concentration of InN. In this paper, we extend the aim of those analyses to the electron mobility and demonstrate that the temperature dependence of the electron mobility can be discussed using the infrared reflectance spectra analyses.
- 関連情報(DOI)
- 10.1016/j.infrared.2007.12.008
- 連携機関・データベース
- 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース(IRDB)(機関リポジトリ)
- 提供元機関・データベース
- 福井大学 : 福井大学学術機関リポジトリ