Transmission Electron Diffraction and Microscopy of 5x5 and 7x7 Reconstructed Structures of Ge Deposited on Si(111)

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資料種別: 図書
タイトル: Transmission Electron Diffraction and Microscopy of 5x5 and 7x7 Reconstructed Structures of Ge Deposited on Si(111)
著者・編者: 谷城, 康眞
TANISHIRO, YASUMASA
著者標目: 谷城, 康眞
TANISHIRO, YASUMASA
出版事項: Proc.11th International Congress on Electron Microscopy (Kyoto, 1986)
出版年月日等: 1986
出版年（W3CDTF）: 1986
タイトル（掲載誌）: Proc.11th International Congress on Electron Microscopy (Kyoto, 1986)
巻号年月日等（掲載誌）: 2
掲載巻: 2
掲載ページ: 1341-1342
対象利用者: 一般
一般注記: 出版タイプ： NA
identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:00027025
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 東京科学大学 : 東京科学大学リサーチリポジトリ(T2R2)