Structure of the In on Si(111)4x1 Surface Determined by Applying Direct Phasing Methods to Transmission Electron Diffraction Data

出版者: in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997)

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資料種別: 図書
タイトル: Structure of the In on Si(111)4x1 Surface Determined by Applying Direct Phasing Methods to Transmission Electron Diffraction Data
著者・編者: 谷城, 康眞
TANISHIRO, YASUMASA
著者標目: 谷城, 康眞
TANISHIRO, YASUMASA
出版事項: in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997)
出版年月日等: 1997
出版年（W3CDTF）: 1997
タイトル（掲載誌）: in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997)
掲載ページ: 1041-1042
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
一般注記: identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:00031085
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 東京工業大学 : 東京工業大学リサーチリポジトリ