Energy Filtering in UHV Reflection Electron Microscopy

出版者: Microbeam Analysis 2000 (Proc. 2nd Conf. of International Union of Microbeam Analysis Societies, Kailua-Kona, Hawaii, 2000, Eds. D.B.Wiliams and R.Shimizu) IOP Conf. Series

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資料種別: 図書
タイトル: Energy Filtering in UHV Reflection Electron Microscopy
著者・編者: 谷城, 康眞
TANISHIRO, YASUMASA
著者標目: 谷城, 康眞
TANISHIRO, YASUMASA
出版事項: Microbeam Analysis 2000 (Proc. 2nd Conf. of International Union of Microbeam Analysis Societies, Kailua-Kona, Hawaii, 2000, Eds. D.B.Wiliams and R.Shimizu) IOP Conf. Series
出版年月日等: 2000
出版年（W3CDTF）: 2000
タイトル（掲載誌）: Microbeam Analysis 2000 (Proc. 2nd Conf. of International Union of Microbeam Analysis Societies, Kailua-Kona, Hawaii, 2000, Eds. D.B.Wiliams and R.Shimizu) IOP Conf. Series
巻号年月日等（掲載誌）: 165
掲載巻: 165
掲載ページ: 215-216
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
一般注記: identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:00036538
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 東京工業大学 : 東京工業大学リサーチリポジトリ