Iterative Determination of Phase Reference in IMD Measurement to Characterize Nonlinear Behavior, and to Derive Inverse, for Power Amplifier with Memory Effect

• 資料種別: 記事
• タイトル: Iterative Determination of Phase Reference in IMD Measurement to Characterize Nonlinear Behavior, and to Derive Inverse, for Power Amplifier with Memory Effect
• 著者・編者: 大石, 泰之; Oishi, Yasuyuki; 木村, しげかず; Kimura, Shigekazu; 福田, えいすけ; Fukuda, Eisuke; 高野, 健; Takano, Takeshi; Daido, Yoshimasa; 荒木, 純道; Araki, Kiyomichi
• 著者標目: 大石, 泰之; Oishi, Yasuyuki; 木村, しげかず; Kimura, Shigekazu; 福田, えいすけ; Fukuda, Eisuke; 高野, 健; Takano, Takeshi; Daido, Yoshimasa; 荒木, 純道; Araki, Kiyomichi
• 出版年月日等: 2011-10
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• タイトル（掲載誌）: IEICE Transaction on Electronics
• 巻号年月日等（掲載誌）: E94-C No. 10
• 掲載巻: E94-C
• 掲載号: No. 10
• 掲載ページ: 1515-1523
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 出版タイプ： NA; identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:50157295
• 関連情報（DOI）: 10.1587/transele.E94.C.1515; https://doi.org/10.1587/transele.E94.C.1515
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 東京科学大学 : 東京科学大学リサーチリポジトリ(T2R2)