微粒子や鉱物微小領域評価のためのイオンマイクロビーム発光連続分析技術

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 微粒子や鉱物微小領域評価のためのイオンマイクロビーム発光連続分析技術
• 著者・編者: 加田, 渉; 川端, 駿介; 佐藤, 隆博; 江夏, 昌志; 山田, 尚人; 三浦, 健太; 神谷, 富裕; 村尾, 智; 花泉, 修; 佐藤 隆博; 山田 尚人; 神谷 富裕
• 著者標目: 加田, 渉; 川端, 駿介; 佐藤, 隆博; 江夏, 昌志; 山田, 尚人; 三浦, 健太; 神谷, 富裕; 村尾, 智; 花泉, 修; 佐藤 隆博; 山田 尚人; 神谷 富裕
• 出版年月日等: 2016-11-25
• 出版年（W3CDTF）: 2016-11-25
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 第26回環境地質学シンンポジウム
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• 要約等: MeV級水素イオンマイクロビームによる荷電粒子誘起発光(IBIL)顕微分光分析の開発では、光学系の改良によるS/N比の改善と複数の波長スペクトルの同時測定により、様々な試料からのIBILスペクトルの高感度かつ短時間の計測が可能になった。そこで、実際に環境試料中に含まれる化合物の分析にこれを利用した。...