6 MeV C60+ イオンを用いた透過型 SIMS におけるアミノ酸分子の照射損傷

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 6 MeV C60+ イオンを用いた透過型 SIMS におけるアミノ酸分子の照射損傷
• 著者・編者: 石井, 洋晶 (京大); 澤田, 純平 (京大); 中嶋, 薫 (京大); 木村, 健二 (京大); 千葉, 敦也; 山田, 圭介; 平野, 貴美; 鳴海, 一雅; 齋藤, 勇一; 平田, 浩一 (産総研); 千葉 敦也; 山田 圭介; 平野 貴美; 鳴海 一雅; 齋藤 勇一
• 著者標目: 石井, 洋晶 (京大); 澤田, 純平 (京大); 中嶋, 薫 (京大); 木村, 健二 (京大); 千葉, 敦也; 山田, 圭介; 平野, 貴美; 鳴海, 一雅; 齋藤, 勇一; 平田, 浩一 (産総研); 千葉 敦也; 山田 圭介; 平野 貴美; 鳴海 一雅; 齋藤 勇一
• 出版年月日等: 2018-03-22
• 出版年（W3CDTF）: 2018-03-22
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 日本物理学会第73回年次大会
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• 要約等: 高速C_60イオンを用いた透過型二次イオン質量分析法(SIMS)において分析対象となる生体分子に対する損傷の定量的評価を行った。SiN薄膜(厚さ30 nm)の片面に真空蒸着法でフェニルアラニン(C_9H_11NO_2、分子量165.19)を約70 nm堆積した薄膜試料に、6 MeVのC_60^+イオ...