Radiation Dose Rate Effects of Microchip-Laser Induced Breakdown Spectroscopy for Remote Analysis of Severe Accident Reactor

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: Radiation Dose Rate Effects of Microchip-Laser Induced Breakdown Spectroscopy for Remote Analysis of Severe Accident Reactor
• 著者・編者: Tamura, Koji; Oba, Hironori; Saeki, Morihisa; Taguchi, Tomitsugu; Hwan Hong, Lim; 平等拓範; 田川明広; 若井田育夫
• 著者標目: Tamura, Koji; Oba, Hironori; Saeki, Morihisa; Taguchi, Tomitsugu; Hwan Hong, Lim; 平等拓範; 田川明広; 若井田育夫
• 出版年月日等: 2019-08-27
• 出版年（W3CDTF）: 2019-08-27
• 本文の言語コード: eng
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 3rd Asian symposium on laser induced breakdown spectroscopy
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• 要約等: 東京電力福島第一原発の廃炉に係る遠隔分析技術として行っている、レーザー誘起発光分析法(LIBS)等による最近の研究成果として、過酷事故炉での遠隔分析のためのマイクロチップレーザー利用LIBSの放射線影響、として発表を行い、合わせて当該分野の最新情勢を得る。（提供元: 学術機関リポジトリデータベース（...