クラスターDNA損傷形態の線質依存性

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: クラスターDNA損傷形態の線質依存性
• 著者・編者: 赤松, 憲; 鹿園, 直哉; Akamatsu, Ken; Shikazono, Naoya
• 著者標目: 赤松, 憲; 鹿園, 直哉; Akamatsu, Ken; Shikazono, Naoya
• 出版年月日等: 2019-11-14
• 出版年（W3CDTF）: 2019-11-14
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 日本放射線影響学会 第62回年会
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• 要約等: 高LET放射線の飛跡周辺や二次電子の飛跡末端で生じやすいとされているクラスターＤＮＡ損傷（複数の損傷がＤＮＡ上の狭い領域に集中的に生じている）は修復が困難とされているが、その化学構造、線質・エネルギーの違いとの関係についてはほとんど明らかにされていない。本特別講演ではクラスターＤＮＡ損傷の概要説明、...