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二重露光法による粗大粒材の応力測定

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二重露光法による粗大粒材の応力測定

資料種別
記事
著者
鈴木, 賢治ほか
出版者
-
出版年
2020-04
資料形態
掲載誌名
材料 68 4
掲載ページ
p.312-317
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資料詳細

要約等:

粗大粒のための新しい応力測定法として、放射光単色X線を利用した二重露光法(DEM)を提案する。回折角は入射X線ビームと回折斑点のビームから得ることができ、各ビームは2θアームに搭載した直動ステージ上の2次元検出器によって測定される。DEMの有用性を実証するため、塑性曲げ試験片の残留応力および圧痕試験...

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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
鈴木, 賢治
菖蒲, 敬久
城, 鮎美
Takahisa, Shobu
Ayumi, Shiro
出版年月日等
2020-04
出版年(W3CDTF)
2020-04
タイトル(掲載誌)
材料
巻号年月日等(掲載誌)
68 4
掲載巻
68
掲載号
4
掲載ページ
312-317
ISSN(掲載誌)
ISSN : 0514-5163
本文の言語コード
jpn
対象利用者
一般
関連情報(DOI)
10.2472/jsms.68.312
連携機関・データベース
国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース(IRDB)(機関リポジトリ)
提供元機関・データベース
国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ