Behavior of Leakage Current in SiC MOS Capacitors Introduced by Heavy Ions

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資料種別: 文書・図像類
タイトル: Behavior of Leakage Current in SiC MOS Capacitors Introduced by Heavy Ions
著者・編者: Takahashi, Misa
Nakada, Yuki
Mizuta, Eiichi
Shindo, Hiroyuki
Senzaki, Junji
Akinori, Takeyama
Takahiro, Makino
Takeshi, Ohshima
Yoshiyuki, Iwata
Kuboyama, Satoshi
著者標目: Takahashi, Misa
Nakada, Yuki
Mizuta, Eiichi
Shindo, Hiroyuki
Senzaki, Junji
Akinori, Takeyama
Takahiro, Makino
Takeshi, Ohshima
Yoshiyuki, Iwata
Kuboyama, Satoshi
Akinori, Takeyama
Takahiro, Makino
Takeshi, Ohshima
Yoshiyuki, Iwata
出版年月日等: 2020-12-08
出版年（W3CDTF）: 2020-12-08
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
一般注記: Nuclear & Space Radiation Effects Conference 2020( NSREC 2020)
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構学術機関リポジトリ