Studies on test generation complexity for stuck-at and path delay faults based on τ[k]-notation

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Studies on test generation complexity for stuck-at and path delay faults based on τ[k]-notation
• 著者・編者: Ooi, Chia Yee
• 著者標目: Ooi, Chia Yee
• 出版事項: Nara Institute of Science and Technology
• 出版年月日等: 2006-09-29
• 出版年（W3CDTF）: 2006-09-29
• 並列タイトル等: τ[k]-表記法に基づく縮退故障およびパス遅延故障のテスト生成複雑度に関する研究; τ[k] -ヒョウキホウ ニ モトズク シュクタイ コショウ オヨビ パス チエン コショウ ノ テスト セイセイ フクザツド ニ カンスル ケンキュウ
• 授与機関名: 奈良先端科学技術大学院大学
• 授与年月日: 2006-09-29
• 報告番号: 甲第602号
• 学位: 博士(工学)
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: τ[k]-notation; easy testability; combinational/acyclic test generation complexity; design/synthesis for testability (DFT/SFT); stuck-at faults; path delay faults
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.34413/dr.00602
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 奈良先端科学技術大学院大学 : 奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistar

目次

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