Over-testing reduction for delay faults through false path exclusion using RTL information

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: Over-testing reduction for delay faults through false path exclusion using RTL information
• 著者・編者: Yoshikawa, Yuki; Ohtake, Satoshi; Fujiwara, Hideo
• 著者標目: Yoshikawa, Yuki; https://kaken.nii.ac.jp/ja/search/?qm=30807483; Ohtake, Satoshi; Fujiwara, Hideo
• 出版事項: Nara Institute of Science and Technology
• 出版年月日等: 2007-06
• 出版年（W3CDTF）: 2007-06
• タイトル（掲載誌）: Information Science Technical Report
• 巻号年月日等（掲載誌）: TR2007012
• 掲載号: TR2007012
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 0919-9527
• 本文の言語コード: eng
• 対象利用者: 一般
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 掲載誌（URI）: URI; http://isw3.naist.jp/IS/TechReport/
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 奈良先端科学技術大学院大学 : 奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistar

• 要約等: While design-for-testability (DFT) techniques are generally used in order to reduce test generation complexity, they induce over-testing problems. In ...