ダブルパルス試験によるパワーエレクトロニクス機器用ノイズ計測システムの構築

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: ダブルパルス試験によるパワーエレクトロニクス機器用ノイズ計測システムの構築
• 著者・編者: 岩﨑, 量旺; 長谷川, 一徳; 安部, 征哉; 大村, 一郎
• 著者標目: 岩﨑, 量旺; 長谷川, 一徳 ハセガワ, カズノリ; 安部, 征哉 アベ, セイヤ; 大村, 一郎 オオムラ, イチロウ
• 出版事項: 一般社団法人電気学会
• 出版年月日等: 2017-11-20
• 出版年（W3CDTF）: 2017-11-20
• 並列タイトル等: Front-Loading of EMI Test: A New Noise Measurement System
• タイトル（掲載誌）: 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2017
• 掲載巻: 2017
• 掲載ページ: 59-62
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: パワーエレクトロニクス; 電磁妨害; 半導体デバイスノイズ; スペクトル解析; ダブルパルス試験; ノイズ計測システム; Power electronics; Electromagnetic interference; Semiconductor device noise; Spectrum analysis, Double pulse test; Noise measurement system
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会（IEE-SPC）パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術, 2017年11月20日-21日, 鹿児島大学 稲盛会館, 鹿児島県; Conference Paper
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 著作権情報: 一般社団法人電気学会
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 九州工業大学 : キューテイカー

• 要約等: The accurate measurement of EMI is essential because radiated noise from power electronics cause the malfunction of a peripheral device or itself. Thi...