工業用低エネルギー電子線照射の線量評価

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: 工業用低エネルギー電子線照射の線量評価
• 著者・編者: 来島 利幸; 中瀬 吉昭
• 著者標目: 来島 利幸; 中瀬 吉昭
• 出版年月日等: 1997-03
• 出版年（W3CDTF）: 1997-03
• 並列タイトル等: Dose estimation in low-energy electron beam irradiation for industrial purposes
• タイトル（掲載誌）: JAERI-Research 97-013
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 出版タイプ： NA; 工業用低エネルギー電子線照射における吸収線量の評価のために、モンテカルロ法により物質中に入射した電子の挙動について計算を行った。ここでは、電子の単一散乱を仮定し、相対論的取扱いを行って、従来より正確にかつパソコンレベルで計算できるコードを開発した。加速器窓としてのTi層、空気層、線量計としての三酢酸セルローズ(CTA)層及び基板の多層構造に主として300keV電子を照射したときの振る舞いについて解析した。CTA表面における電子のエネルギースペクトル、角度分布の計算や、CTAにおける深度吸収線量等の計算を行った。これらの計算結果と実測値との比較を行い両者が良く一致することを確認した。
• 一次資料へのリンクURL: /JAERI-Research-97-013.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-Research-97-013.pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• 要約等: 工業用低エネルギー電子線照射における吸収線量の評価のために、モンテカルロ法により物質中に入射した電子の挙動について計算を行った。ここでは、電子の単一散乱を仮定し、相対論的取扱いを行って、従来より正確にかつパソコンレベルで計算できるコードを開発した。加速器窓としてのTi層、空気層、線量計としての三酢酸...