JT-60UにおけるELMの発生条件

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: JT-60UにおけるELMの発生条件
• 著者・編者: 鎌田 裕; 佐藤 正泰; 菊池 満; 森 雅博
• 著者標目: 鎌田 裕; 佐藤 正泰; 菊池 満; 森 雅博
• 出版年月日等: 1994-08
• 出版年（W3CDTF）: 1994-08
• 並列タイトル等: Onset of ELMs in JT-60U
• タイトル（掲載誌）: JAERI-Research 94-011
• 本文の言語コード: eng
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: JT-60Uにおいて、閉じ込め性能を制限しているELMは、加熱パワーがHモード遷移に必要なしきい値より充分大きい場合に発生する。ELMの無いHモードが得られるのは、線平均電子密度が、あるしきい値線平均電子密度のしきい値n$_{e\ast}$以下の場合のみであり、それ以上の線平均電子密度ではELMが出現する。この密度しきい値n$_{e\ast}$は、バルーニングモードの指標パラメータである(Bt$^{2}$/Rq$_{eff2}$)liとともに上昇する。(n$_{e\ast}$Ti(95\%)/(√Ti(95\%)/Bp(a))で評価した周辺圧力勾配は、上記のバルーニング指標パラメータと良い比例関係にある。この依存性から、JT-60UのELMは、バルーニングモードに起因していると理解される。プラズマ中の圧力分布及びブートストラップ電流を含めた電流分布の時間発展解析の結果、プラズマ周辺部での急峻な圧力勾配は、高n理想バルーニングモードの安定限界に近接していることがわかった。
• 一次資料へのリンクURL: /JAERI-Research-94-011.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-Research-94-011.pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• 要約等: JT-60Uにおいて、閉じ込め性能を制限しているELMは、加熱パワーがHモード遷移に必要なしきい値より充分大きい場合に発生する。ELMの無いHモードが得られるのは、線平均電子密度が、あるしきい値線平均電子密度のしきい値n$_{e\ast}$以下の場合のみであり、それ以上の線平均電子密度ではELMが出...