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書誌情報
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- 資料種別
- 文書・図像類
- 著者・編者
- 五十嵐 寛加藤 功高橋 武士
- 出版年月日等
- 1991-11
- 出版年(W3CDTF)
- 1991-11
- タイトル(掲載誌)
- PNC TN8410 91-274
- 本文の言語コード
- eng
- 対象利用者
- 一般
- 一般注記
- None高レベル廃液中の準揮発性元素であるRu,TcおよびSeに対し、ガラス固化プロセスでの挙動を把握するため、トレーサを添加した模擬廃液の連続仮焼試験を行い、各元素の揮発率について800$^{\circ}$Cまでの温度依存性を評価した。さらに、Ruについては、バッチ仮焼試験を実施し、蒸発から仮焼が終了する500$^{\circ}$Cまでの各温度領域に対する揮発率を評価することにより、温度依存性をより明確にするとともに、硝酸による影響について評価した。トレーサ試験では、TcおよびSeの揮発率は、温度の上昇とともに増加するが、Ruについては、温度が高くなるほど低下する結果が得られた。また、バッチ試験では、硝酸濃度にかかわらず、仮焼時のRuの揮発量の多くは、200$\sim$300$^{\circ}$Cの温度域における揮発によるもので、300$^{\circ}$C以上での揮発量は僅かであることが判った。