JT-60分光計測用機器の耐放射線性試験; 臨界プラズマ試験装置設計報告,126

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: JT-60分光計測用機器の耐放射線性試験; 臨界プラズマ試験装置設計報告,126
• 著者・編者: 西谷 健夫; 杉江 達夫; 田中 隆一; 中村 義輝; 平尾 敏雄; 金子 哲; 森 治通; 山下 貴司; 金原 政男; 永田 浩; 松本 明; 中澤 正治; 前田 彦祐
• 著者標目: 西谷 健夫; 杉江 達夫; 田中 隆一; 中村 義輝; 平尾 敏雄; 金子 哲; 森 治通; 山下 貴司; 金原 政男; 永田 浩; 松本 明; 中澤 正治; 前田 彦祐
• 出版年月日等: 1984-03
• 出版年（W3CDTF）: 1984-03
• 並列タイトル等: Irradiation Effcts on Components of Spectroscopic Measurement Device for JT-60 Diagonostics
• タイトル（掲載誌）: JAERI-M 84-047
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: JT-60の分光計測を構成する部品の内、光電子信管、シリコンフォトダイオード、回路系、ガラス面板、ミラ、回析格子、光学ガラスにいて$\gamma$線照射試験を一部中性子照射試験を行った。光電子増管とシリコンフォトダイオードは$\gamma$線に対し感度を有し、さらに光電子増倍管は照射により暗電流が増加した。アナログ回線は照射中も正常に動作したが、デジタル回路では10$^{5}$R/hでカウンタが破損した。ガラス面板は、石英ガラスが$\gamma$線の影響が最も少ないことがわかった。ミラーおよび回析格子は照射による影響がみられなかった。光学ガラスについては、$\gamma$線による着色が少ないノンブラウンガラスが中性子に対しても着色が少ないことがわかった。
• 一次資料へのリンクURL: /JAERI-M-84-047.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-84-047.pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• 要約等: JT-60の分光計測を構成する部品の内、光電子信管、シリコンフォトダイオード、回路系、ガラス面板、ミラ、回析格子、光学ガラスにいて$\gamma$線照射試験を一部中性子照射試験を行った。光電子増管とシリコンフォトダイオードは$\gamma$線に対し感度を有し、さらに光電子増倍管は照射により暗電流が増...