民生部品を生かすHBD技術

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 民生部品を生かすHBD技術
• 著者・編者: 新藤, 浩之; 浅井, 弘彰; 池田, 直美; 山田, 理子; 久保山, 智司; 松田, 純夫; Shindo, Hiroyuki; Asai, Hiroaki; Ikeda, Naomi; Yamada, Noriko; Kuboyama, Satoshi; Matsuda, Sumio
• 著者標目: 新藤, 浩之; 浅井, 弘彰; 池田, 直美; 山田, 理子; 久保山, 智司; 松田, 純夫; Shindo, Hiroyuki; Asai, Hiroaki; Ikeda, Naomi; Yamada, Noriko; Kuboyama, Satoshi; Matsuda, Sumio
• 出版事項: 宇宙航空研究開発機構
• 出版年月日等: 2006-01-20
• 出版年（W3CDTF）: 2006-01-20
• 並列タイトル等: HBD methodology that promotes space application of COTS
• タイトル（掲載誌）: 宇宙航空研究開発機構特別資料: 平成16年度総合技術研究本部宇宙領域宇宙科学研究本部合同研究成果報告書:人工衛星系基盤技術 = JAXA Special Publication: FY2004 Report of Joint Research Achievements of the Space Division of Institute of Aerospace Technology and Institute of Space and Astronautical Science: Basic Technologies of Satellite Systems
• 巻号年月日等（掲載誌）: JAXA-SP-05-008
• 掲載巻: JAXA-SP-05-008
• 掲載ページ: 211-216
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 1349-113X
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Hardness-By-Design手法; 照射試験; CMOS/SOIプロセス; 航空宇宙環境; 宇宙線; 放射線耐性; シングルイベントアップセット; LSI; Hardness-By-Design approach; irradiation test; CMOS/SOI process; aerospace environment; cosmic ray; radiation tolerance; single event upset
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Hardness-By-Design (HBD) approach for 0.15 micrometer fully depleted CMOS/SOI process was studied. We designed logic cells hardened for SEU/SET and performed the irradiation tests in order to evaluate the effectiveness of this methodology. Excellent hardness was achieved, and it is thought that state-of-the-art parts can be applied to space by using this technique.; 資料番号: AA0049054044; レポート番号: JAXA-SP-05-008
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 掲載誌（NCID）: AA11984031; https://ci.nii.ac.jp/ncid/AA11984031
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 宇宙航空研究開発機構 : 宇宙航空研究開発機構リポジトリ