Goodness-of-fit tests for the type-1 extreme-value and two-parameter Weibull distributions with unknown parameters estimated by graphical plotting techniques. Part 1: Critical values

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Goodness-of-fit tests for the type-1 extreme-value and two-parameter Weibull distributions with unknown parameters estimated by graphical plotting techniques. Part 1: Critical values
• 著者・編者: 下河, 利行; Liao, Min; Shimokawa, Toshiyuki
• 著者標目: 下河, 利行; Liao, Min; Shimokawa, Toshiyuki
• 出版事項: 航空宇宙技術研究所
• 出版年月日等: 1999-02
• 出版年（W3CDTF）: 1999-02
• 並列タイトル等: グラフィカルプロット技術によって推定される未知母数を含むタイプ1極値分布および2母数ワイブル分布に対する適合度検定 その1:限界値
• タイトル（掲載誌）: 航空宇宙技術研究所報告 = Technical Report of National Aerospace Laboratory
• 巻号年月日等（掲載誌）: 1371T
• 掲載巻: 1371T
• 掲載ページ: 1-11
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 0389-4010
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: 母数推定; グラフィカルプロット技術; タイプ1極値分布; 適合度検定; クレマー・フォンミーゼス統計量; アンダーソン・ダーリング統計量; 極値確率紙; ワイブル確率紙; 限界値; モンテカルロ・シミュレーション; 2母数ワイブル分布; population parameter estimation; graphical plotting technique; type 1 extreme value distribution; goodness of fit test; Cramer von Mises statistics; Anderson Darling statistics; extreme value probability paper; Weibull probability paper; critical value; Monte Carlo simulation; two parameter Weibull distribution
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 出版タイプ： NA; 本研究の目的は、完全標本に対し確率紙を利用して母数を推定する場合を対象として、タイプ1極値分布と2母数ワイブル分布に対する適合度検定を行うためのクレマー・フォンミーゼスおよびアンダーソン・ダーリング統計量に対する限界値を与えることである。極値確率紙とワイブル確率紙上で母数を推定するために、メジアンランク、平均ランク、および対称ランク(対称試料累積分布)の3種類プロット法を最小2乗法と組み合わせる。標本の大きさとしては3(1)20、25(5)50、60(10)100を選び、クレマー・フォンミーゼスおよびアンダーソン・ダーリング統計量に対する限界値を、モンテカルロ・シミュレーションによりそれぞれ1,000,000組の標本を10回ずつ発生させることにより計算する。さらに、得られた限界値について議論し、実用的数表を与える。; The objective of this study is to determine the critical values of the Cramer-von Mises (C-M) and Anderson-Darling (A-D) statistics for goodness-of-fit tests for the Type-1 extreme-value and two-parameter Weibull distributions when the population parameters are estimated from a complete sample by graphical plotting techniques. Three kinds of graphical plotting technique, i.e., the median ranks, mean ranks, and symmetrical sample cumulative distribution (symmetrical ranks), are combined with the least-squares method on extreme-value and Weibull probability paper to estimate the parameters. Monte Carlo simulation is used to calculate the critical values of the C-M and A-D statistics, in which 1,000,000 sets of complete samples are generated ten times for each sample size of 3(1)20, 25(5)50, and 60(10)100. The critical values are discussed and tabulated for practical use.; 資料番号: AA0001678000; レポート番号: NAL TR-1371T
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 宇宙航空研究開発機構 : 宇宙航空研究開発機構リポジトリ