Monte Carlo Simulation of Thermalization of Subexcitation Electrons in He, Ne, Ar, Kr, and Xe

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: Monte Carlo Simulation of Thermalization of Subexcitation Electrons in He, Ne, Ar, Kr, and Xe
• 著者・編者: 古浦, 勝久; KOURA, Katsuhisa
• 著者標目: 古浦, 勝久; KOURA, Katsuhisa
• 出版事項: 航空宇宙技術研究所
• 出版年月日等: 1984-12
• 出版年（W3CDTF）: 1984-12
• タイトル（掲載誌）: Technical Report of National Aerospace Laboratory TR-843T
• 巻号年月日等（掲載誌）: 843T
• 掲載巻: 843T
• 掲載ページ: 15-
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 0389-4010
• 本文の言語コード: eng
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 希ガス中における亜励起電子の熱電子化過程のモンテカルロ・シミュレーション(MCS)を行った。電子速度分布は初期マックスウェル分布に対してもマックスウェル分布(MD)から大きくずれる。電子エネルギ減衰および熱電子化時間の実験結果との比較を行った。Ramsauer極小値をもつ希ガスにおいて,MCSおよびMD仮定に基づく近似理論結果と実験結果との顕著な不一致がみられる。電子エネルギ減衰の測定結果は,理論結果と比較してRamsauer極小値に敏感でない。; The thermalization of subexcitation electrons in rare gases is studied with the Monte Carlo simulation (MCS). The electron velocity distribution is found to deviate significantly from the local Maxwellian distribution (MD) even for the initial Maxwellian distribution. Comparisons with available experimental results of the electron energy degradation as well as the electron thermalization time are made. A considerable discrepancy between the theoretical results obtained by the MCS and the approximate theory based on the MD assumption and the experimental results is revealed especially for rare gases with the Remsauer minimum. The measured electron energy degradation is likely to be much less sensitive to the Ramsauer minimum than the theoretical one.; 資料番号: NALTR0843000; レポート番号: NAL TR-843T
• 一次資料へのリンクURL: https://jaxa.repo.nii.ac.jp/?action=repository_action_common_download&item_id=45101&item_no=1&attribute_id=31&file_no=1
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 宇宙航空研究開発機構 : 宇宙航空研究開発機構リポジトリ