タイトル（掲載誌）Technical Report of National Aerospace Laboratory TR-866T
一般注記Ramsauer極小値をもつ希ガス中での電子の熱電子化過程における理論と実験結果との顕著な不一致に関連して,熱電子化過程の運動量移行断面積σm(ε)及び気体不純物への敏感性をモンテカルロ・シミュレーション及び電子エネルギー損失速度経験式を用いて調べた。熱電子化過程はσm(ε)に極めて敏感であるが,より小さいRamsauer極小値をもつより正確なσm(ε)のデータは不一致を増大させるので,σm(ε)の不正確さは不一致の原因ではないと考えられる。熱電子化過程は気体不純物にも非常に敏感であり,99.9％以上の純度をもつ実験においても,分子不純物が不一致の原因になりうる。
The sensitivity of the electron thermalization in rare gases to the momentum-transfer cross section σm(ε) and gas impurities is investigated using both the Monte Carlo simulation and the empirical equation for the electron energy-loss rate in relation to the remarkable discrepancy between the theoretical and experimental results revealed in rate gases with the Ramsauer minimum. The electron thermalization is very sensitive to σm(ε), but the discrepancy may not be attributable to inaccuracies in σm(ε), because the more accurate data of σm(ε) with the smaller Ramsauer minimum enlarge the discrepancy. The electron thermalization is shown to be so sensitive to gas impurities that it is considered probable that molecular impurities cause the discrepancy even for a experiment with a purity grade better than 99.9％.
資料番号: NALTR0866000
レポート番号: NAL TR-866T
連携機関・データベース国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
提供元機関・データベース宇宙航空研究開発機構 : 宇宙航空研究開発機構リポジトリ