並列タイトル等Formation of high-quality poly-Si films by rapid crystallization of sputtered a-Si films
一般注記化学気相堆積(CVD)法と比べ安全なスパッタ法により形成した非晶質シリコン(a-Si)膜を、ミリ秒の桁の瞬間熱処理であるフラッシュランプアニール(FLA)で結晶化することにより、安価なガラス基板に熱損傷を与えることなく、多結晶Si(poly-Si)膜を形成する手法を確立した。CVD a-Si 膜の結晶化の際に必要なCr 密着層が無くても、Si 膜の剥離無く結晶化が可能であること、a-Si 膜中の欠陥密度が大きく異なるにも関わらず、同様の機構での結晶化が起こることなどを明らかにした。 : I have established the method of forming polycrystalline silicon (poly-Si) films without serious thermal damage onto glass substrates by crystallizing precursor amorphous Si (a-Si) films formed by sputtering, safer than chemical vapor deposition (CVD). I have clarified that sputtered a-Si films can be crystallized without Cr adhesion films and show a crystallization mechanism similar to that shown in CVD a-Si films.
若手研究(B)
研究期間:2009~2010
課題番号:21760580
研究者番号:40396510
研究分野:工学
科研費の分科・細目:材料工学・材料加工・処理
identifier:https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/handle/10119/9808
一次資料へのリンクURLhttps://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/9808/1/21760580seika.pdf
連携機関・データベース国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース(IRDB)(機関リポジトリ)
提供元機関・データベース北陸先端科学技術大学院大学 : JAIST学術研究成果リポジトリ