無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法
• 著者・編者: 森永, 広介; 岡, 伸也; 吉川, 祐樹; 市原, 英行; 井上, 智生; MORINAGA, Kohsuke; OKA, Nobuya; YOSHIKAWA, Yuki; ICHIHARA, Hideyuki; INOUE, Tomoo
• 著者標目: 森永, 広介; 岡, 伸也; 吉川, 祐樹; 市原, 英行; 井上, 智生; MORINAGA, Kohsuke; OKA, Nobuya; YOSHIKAWA, Yuki; ICHIHARA, Hideyuki; INOUE, Tomoo
• 出版事項: 情報処理学会
• 出版年月日等: 2007-11-20
• 出版年（W3CDTF）: 2007-11-20
• 並列タイトル等: An Optimization of Thru Trees for Test Generation Based on Acyclical Testability
• タイトル（掲載誌）: 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]
• 巻号年月日等（掲載誌）: 2007 114
• 掲載巻: 2007
• 掲載号: 114
• 掲載ページ: 13-18
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 09196072
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: application/pdf
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• 一次資料へのリンクURL: 110006533255.pdf; https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/record/1747/files/110006533255.pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
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• 関連情報: URI; http://www.ipsj.or.jp/
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 広島市立大学 : 広島市立大学学術リポジトリ