並列テスト生成におけるテストパターン数について

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 並列テスト生成におけるテストパターン数について
• 著者・編者: 井上, 智生; 藤原, 秀雄; INOUE, Tomoo; FUJIWARA, Hideo
• 著者標目: 井上, 智生; 藤原, 秀雄; INOUE, Tomoo; FUJIWARA, Hideo
• 出版事項: 情報処理学会
• 出版年月日等: 1993-10-28
• 出版年（W3CDTF）: 1993-10-28
• 並列タイトル等: On the Test Set Size in Parallel Test Generation
• タイトル（掲載誌）: 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告
• 巻号年月日等（掲載誌）: 93 94
• 掲載巻: 93
• 掲載号: 94
• 掲載ページ: 91-98
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
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• 関連情報: 情報処理学会; http://www.ipsj.or.jp/
• 関連情報（NAID）: 110002930397; https://ci.nii.ac.jp/naid/110002930397
• 掲載誌（NCID）: AN1011091X; https://ci.nii.ac.jp/ncid/AN1011091X
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 広島市立大学 : 広島市立大学学術リポジトリ

• 要約等: 本稿では,並列テスト生成において生成されるテストパターン数について考察する.複数のプロセッサで同時にテストパターンを生成する並列テスト生成では,一台のプロセッサによる処理に比べて多くのテストパターンを生成する傾向にある.本稿では,生成されるテストパターン数とそのパターンによって検出される故障数との関...