原子的構造解析システムの現状と課題(II）

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 原子的構造解析システムの現状と課題(II）
• 著者・編者: 岩田, 博之; 高木, 誠; 平野, 正典; 山田, 英介; 渡辺, 藤雄; 落合, 鎮康; 澤木, 宣彦
• 著者標目: 岩田, 博之; 高木, 誠; 平野, 正典; 山田, 英介; 渡辺, 藤雄; 落合, 鎮康; 澤木, 宣彦
• 出版事項: 愛知工業大学
• 出版年月日等: 2012-09-27
• 出版年（W3CDTF）: 2012-09-27
• 並列タイトル等: ゲンシテキ コウゾウ カイセキ システム ノ ゲンジョウ ト カダイ Ⅱ; Current Status and Future Agenda in“Atomic Structure Analyzing System”
• タイトル（掲載誌）: 総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.
• 巻号年月日等（掲載誌）: 14
• 掲載巻: 14
• 掲載ページ: 15-18
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 1344-9672
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: In Research Institute for Industrial Technology，Aichi Institute Technology, a TEM CCD-camera (Orius SC1000) has been installed in the transmission electron micro-scope (JEOL JEM-2010). This camera mounted at the bottom of the system allows the user to view and record easily high resolution images. And it offers high speed (> 14 fps) image viewing mode, and capability of high quality TEM in-situ observation. In addition，two computer-controlled sample-preparation systems have been equipped recently. By the ion slicer system (JEOL EM-9100IS) we can prepare thin-film specimens faster and easier than before，where low-angle Ar ion beam irradiates the specimens using a thin shield belt. The Gentle Mill 3 (IV8) can eliminate surface damage caused by the high-energy ion beam irradiation to represent real crystal structure instead of artifacts in TEM analyses.; identifier:http://repository.aitech.ac.jp/dspace/handle/11133/2095
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 掲載誌（NCID）: AA11484797; https://ci.nii.ac.jp/ncid/AA11484797
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 愛知工業大学 : 愛知工業大学学術情報リポジトリ