マハラノビス距離を用いた電柱の劣化診断

資料種別: 文書・図像類

著者: 津田, 紀生ほか

出版者: 愛知工業大学

出版年: 2023-11

資料形態: デジタル

ページ数・大きさ等: -

NDC: -

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一般注記：: identifier:http://repository.aitech.ac.jp/dspace/handle/11133/4264

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書誌情報

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デジタル

資料種別: 文書・図像類
タイトル: マハラノビス距離を用いた電柱の劣化診断
著者・編者: 津田, 紀生
小塚, 晃透
岩月, 栄治
荒井, 翔太
古屋, 直樹
中根, 長太郎
著者標目: 津田, 紀生
小塚, 晃透
岩月, 栄治
荒井, 翔太
古屋, 直樹
中根, 長太郎
出版事項: 愛知工業大学
出版年月日等: 2023-11
出版年（W3CDTF）: 2023-11
並列タイトル等: マハラノビスキョリオモチイタデンチュウノレッカシンダン
タイトル（掲載誌）: 総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.
巻号年月日等（掲載誌）: 25
掲載巻: 25
掲載ページ: 50-53
ISSN（掲載誌）: ISSN : 1344-9672
本文の言語コード: jpn
件名標目: マハラノビス距離
劣化診断
電柱
対象利用者: 一般
一般注記: identifier:http://repository.aitech.ac.jp/dspace/handle/11133/4264
一次資料へのリンクURL: http://repository.aitech.ac.jp/dspace/bitstream/11133/4264/1/%e7%b7%8f%e7%a0%9425%e5%8f%b7%e5%88%86%e9%87%8e%e6%a8%aa%e6%96%ad%e5%9e%8b%e7%a0%94%e7%a9%b6%e6%88%90%e6%9e%9c%e6%a6%82%e8%a6%8101%28p50-53%29.pdf
http://repository.aitech.ac.jp/dspace/bitstream/11133/4264/1/%e7%b7%8f%e7%a0%9425%e5%8f%b7%e5%88%86%e9%87%8e%e6%a8%aa%e6%96%ad%e5%9e%8b%e7%a0%94%e7%a9%b6%e6%88%90%e6%9e%9c%e6%a6%82%e8%a6%8101%28p50-53%29.pdf
オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 愛知工業大学 : 愛知工業大学学術情報リポジトリ