Gate-modulated reflectance spectroscopy for detecting excitonic states in two-dimensional semiconductors

• 資料種別: 記事
• タイトル: Gate-modulated reflectance spectroscopy for detecting excitonic states in two-dimensional semiconductors
• 著者・編者: Mengsong Xue; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Ryo Kitaura
• 著者標目: Mengsong Xue; Kenji Watanabe; https://orcid.org/0000-0003-3701-8119; Takashi Taniguchi; https://orcid.org/0000-0002-1467-3105; Ryo Kitaura; https://orcid.org/0000-0001-8108-109X
• 出版事項: AIP Publishing
• 出版年月日等: 2023-08-07
• 出版年（W3CDTF）: 2023-08-07
• タイトル（掲載誌）: APPLIED PHYSICS LETTERS
• 巻号年月日等（掲載誌）: 123 6
• 掲載巻: 123
• 掲載号: 6
• 掲載ページ: 63101-63101
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 00036951
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: 2D materials; modulation spectroscopy; excitons
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.48505/nims.4328
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• 一次資料へのリンクURL: apl2023.pdf; https://mdr.nims.go.jp/downloads/6d570321w
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 著作権情報: This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and AIP Publishing. This article appeared in Applied Physics Letters 123, 063101 (2023) and may be found at https://doi.org/10.1063/5.0159245.
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 物質・材料研究機構 : Materials Data Repository