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Ｐｏｓｓｉｂｌｅ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ｐｒｏｂｌｅｍｓ　ａｆｆｅｃｔｉｎｇ　ｏｆ　ＴＯＥＩＣ　ＩＰ　ｔｅｓｔ　ｓｃｏｒｅｓ (ＵＨ　ｍｏｎｏｇｒａｐｈ ; ｖ．８３) (兵庫県立大学経済経営研究叢書)

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Ｐｏｓｓｉｂｌｅ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ｐｒｏｂｌｅｍｓ　ａｆｆｅｃｔｉｎｇ　ｏｆ　ＴＯＥＩＣ　ＩＰ　ｔｅｓｔ　ｓｃｏｒｅｓ

(ＵＨ　ｍｏｎｏｇｒａｐｈ ; ｖ．８３) (兵庫県立大学経済経営研究叢書)

資料種別
図書
著者
ＢｒｉａｎＤ．Ｂｒｅｓｎｉｈａｎ ｂｙ
出版者
Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ　ｆｏｒ　Ｅｃｏｎｏｍｉｃ　ａｎｄ　Ｂｕｓｉｎｅｓｓ　Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ　Ｒｅｓｅａｒｃｈ，Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ　ｏｆ　Ｈｙｏｇｏ
出版年
２０１０．８
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
３２９ｐ． ; ２１ｃｍ．
コレクション
-
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紙

資料種別
図書
タイトル
Ｐｏｓｓｉｂｌｅ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ｐｒｏｂｌｅｍｓ　ａｆｆｅｃｔｉｎｇ　ｏｆ　ＴＯＥＩＣ　ＩＰ　ｔｅｓｔ　ｓｃｏｒｅｓ
タイトルよみ
Possible reliability problems affecting of TOEIC IP test scores
著者・編者
ＢｒｉａｎＤ．Ｂｒｅｓｎｉｈａｎ ｂｙ
シリーズタイトル
ＵＨ　ｍｏｎｏｇｒａｐｈ ; ｖ．８３
兵庫県立大学経済経営研究叢書
タイトル標目
Ｐｏｓｓｉｂｌｅ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ｐｒｏｂｌｅｍｓ　ａｆｆｅｃｔｉｎｇ　ｏｆ　ＴＯＥＩＣ　ＩＰ　ｔｅｓｔ　ｓｃｏｒｅｓ Possible reliability problems affecting of TOEIC IP test scores
著者標目
Ｂｒｉａｎ, Ｄ．, Ｂｒｅｓｎｉｈａｎ Bresnihan,Brian, D.
出版事項
Ｋｏｂｅ : Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ　ｆｏｒ　Ｅｃｏｎｏｍｉｃ　ａｎｄ　Ｂｕｓｉｎｅｓｓ　Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ　Ｒｅｓｅａｒｃｈ，Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ　ｏｆ　Ｈｙｏｇｏ
出版年月日等
２０１０．８
出版年（W3CDTF）
2010