静岡大学電子工学研究所研究報告

• 資料種別: 雑誌
• ISSN: 0286-3383
• ISSN-L: 0286-3383
• タイトル: 静岡大学電子工学研究所研究報告
• タイトルよみ: シズオカ ダイガク デンシ コウガク ケンキュウジョ ケンキュウ ホウコク
• 巻次・部編番号: 10(1)-12(2) 19750800-19780300
• 著者標目: 静岡大学電子工学研究所 シズオカ ダイガク デンシ コウガク ケンキュウジョ
• 出版事項: 浜松 : 静岡大学電子工学研究所
• 出版年月日等: 1975-1978
• 出版年（W3CDTF）: 1975-1978
• 刊行巻次・年月次: 1巻1号 (1966)-v. 30, no. 3(1995) ; 31巻 (1996)-38巻 (2003)
• 大きさ: 30cm
• 並列タイトル等: Bulletin of the Research Institute of Electronics, Shizuoka University Bulletin of the Research Institute of Electronics, Shizuoka University
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn; eng
• NDLC: ZN33
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; v. 30, no. 3の本タイトル: Bulletin of the Research Institute of Electronics, Shizuoka University; 刊行頻度, 大きさの変更あり
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-297
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000009920; http://id.ndl.go.jp/bib/000000009920
• 全国書誌番号: 00009994
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 131

目次

ZnS:Cu,Cl粉末蛍光体のELの劣化

β-SiC内の3族発光中心

Escape Length and Escape Probability of Negative-Electron-Affinity GaP:Cs:O by Photoemission Measurement

オートコリメーション型エリプソメーターによるRFスパッタガラス薄膜の膜厚監視

CdS RFスパッタ膜を用いた多重層撮像管ターゲット

自動C-Vプロッタの試作(技術ノート)

希土類付活オキシフッ化物蛍光体

In1-xGaxP混晶のエピタキシャル成長

電流制御結晶成長法によるInxGa1-xSb結晶の組成変調

ビジコン・カメラを用いた簡易型数字読取り装置-2-

平板レンズ型静電ビジコンの電子軌道解析法

The Ridged-Waveguide Mounting Structure for Broad-Band Operation of Solid-State Devices

High Frequency Dielectric Constant Measurements on Thin Films using Gap Immersion Method

GaSb回転引上げ結晶の微視的成長速度

ビジコン・カメラを用いた簡易型数字読取り装置-1-

Mayadas-Shatzkesモデルによる金属膜の電気抵抗の数値計算とその立体表現図

チタン化合物固溶体膜の電気伝導機構-1-Ti-N

電流制御結晶成長法によるInxGa1-xSb結晶の組成変調-2-

AES-LEEDによるGaP表面の研究

硫化カドミウム光導電体におけるNiの影響

回転引上げ結晶中の凹型ファセット成長

(Ga,Al)Sb on GaSb液相成長によるヘテロ接合-1-

チタニウム蒸着膜の電気特性におよぼす基板温度の影響

格子ホログラム型モアレトポグラフィ

薄い絶縁膜を持つSi負性抵抗素子

円環マグネットによるrfスパッタ特性の改善(技術ノート)

透明膜の屈折率と膜厚が分離測定可能な偏光解析法

GaAsおよびGaAlAsの液相エピタキシャル成長-2-

電流制御による3-5化合物半導体の液相エピタキシャル成長法-2-

In,O添加GaPダイオードの緑色発光機構