質量分析 32(2)(105)
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目次
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- SIMS特集
p173~225
- サブミクロンSIMS
p173~180
- SIMSによる深さ方向の分析--3-5族化合物半導体材料への応用
p181~189
- SIMSの生体分析への応用
p191~209
- 加速器質量分析による天然レベルの14C測定
p211~219
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書誌情報
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- 資料種別
- 雑誌
- タイトル
- タイトルよみ
- シツリョウ ブンセキ
- 巻次・部編番号
- 32(2)(105)
- 著者標目
- 日本質量分析学会 ニホン シツリョウ ブンセキ ガッカイ
- 出版事項
- 出版年月日等
- 1984-06
- 出版年(W3CDTF)
- 1984-06
- 刊行巻次・年月次
- 1号(1953年7月) - 16号(1960年12月) ; 9巻1号=17号(1961年4月) - 45巻6号=186号
- 大きさ
- 26cm