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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
巻頭言 ダウンサイジングの拡散
p1~1
提言最近の若者への技術教育を考える
p2~7
解説 電子材料・部品とマイクロテスト技術
p8~15
多孔質ニッケルフェライトガスセンサ
p16~22
セラミックパッケージのダイボンデイング信頼性に及ぼす金めっき下地金属層の影響
p23~35
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書誌情報
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- 資料種別
- 雑誌
- ISSN
- 0285-3833
- ISSN-L
- 0285-3833
- タイトル
- タイトルよみ
- ニホン デンシ ザイリョウ ギジュツ キョウカイ カイホウ
- 巻次・部編番号
- 25
- 著者・編者
- 日本電子材料技術協会 編
- 著者標目
- 日本電子材料技術協会 ニホン デンシ ザイリョウ ギジュツ キョウカイ ( 00293475 )典拠
- 出版年月日等
- 1993-06