精密工学会誌 = Journal of the Japan Society for Precision Engineering

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 精密工学会誌
• タイトルよみ: セイミツ コウガッカイシ
• 巻次・部編番号: 68(1) (通号 805)-68(4) (通号 808) 20020100-20020400
• 著者・編者: 会誌編集委員会 編
• 著者標目: 精密工学会 セイミツ コウガッカイ ( 00299339 )典拠
• 出版事項: 東京 : 精密工学会
• 出版年月日等: 2002
• 出版年（W3CDTF）: 2002
• 出版表示等に関する注記: 52巻1号からv. 82, no. 10までの頒布者: 丸善
• 刊行巻次・年月次: 52巻1号 = 613号 (1986年1月)-
• 大きさ: 26-30cm
• 付属資料: CD-ROM (70巻1号以降)
• 並列タイトル等: Journal of the Japan Society for Precision Engineering Journal of the Japan Society for Precision Engineering; Journal of the Japan Society for Precision Engineering; Journal of the Japan Society of Precision Engineering
• ISSN（掲載誌）: 0912-0289; 1348-8716
• ISSN-L（掲載誌）: 0912-0289; 1348-8716
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN12
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 並列タイトル変遷: Journal of the Japan Society of Precision Engineering (52巻1号-57巻4号)
• 総目次・総索引注記: 総目次・総索引あり
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-466
• 改題前: 継続前; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000013203; 吸収前; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000004268081
• 改題後: 派生後 : 精密工学会誌論文集 / 会誌編集委員会 編 70巻1号-; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000004268081
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000043699; http://id.ndl.go.jp/bib/000000043699
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版

目次

グラビアとインタビュー 精密工学の最前線 産業技術総合研究所機械システム研究部門ファインファクトリー研究グループ モノづくり研究の一端を担って--岡崎祐一

特集 時代環境とともに進化する工場

展望 時代環境とともに進化する工場 (特集 時代環境とともに進化する工場)

解説 マイクロファクトリ (特集 時代環境とともに進化する工場)

解説 野菜工場 (特集 時代環境とともに進化する工場)

特集 マイクロ加工の最前線

グラビアとインタビュー 精密工学の最前線 日本科学冶金株式会社三重工場 粉末冶金で微小精密部品を作る 霜降英男(日本科学冶金株式会社取締役)

展望 マイクロ加工の現状と展望 (特集 マイクロ加工の最前線)

解説 マイクロ切削加工 (特集 マイクロ加工の最前線)

解説 マイクロ研削加工 (特集 マイクロ加工の最前線)

グラビアとインタビュー 精密工学の最前線 金沢工業大学 夢考房 夢を考えて形あるものに 石川憲一(金沢工業大学学長)

特集 技術立国日本がめざす21世紀のモノづくり

展望 日本のモノづくりの現状と今後 (特集 技術立国日本がめざす21世紀のモノづくり)

展望 モノづくり教育について--ものつくり大学を例にして (特集 技術立国日本がめざす21世紀のモノづくり)

解説 (特集 技術立国日本がめざす21世紀のモノづくり)

グラビアとインタビュー 精密工学の最前線 オリンパス光学工業株式会社 ナノの世界を探る 生物用走査型プローブ顕微鏡 八木明(オリンパス光学工業株式会社 医療システムカンパニー課長代理)

特集 ナノメートルを測る技術

展望 ナノメートルを測る--技術と陥穽 (特集 ナノメートルを測る技術)

解説 ナノメトロロジーの標準と国際比較 (特集 ナノメートルを測る技術)

解説 電子ビームによる半導体パターン計測 (特集 ナノメートルを測る技術)