書店で探す
目次
(通号 32) 2001.3
- 解説 斜出射X線測定型の電子線プローブマイクロアナリシス
p.25~44
- NiKα1/NiKβ線を用いた2波長X線反射率法の検討
p.63~77
- EPMA用Cr/Sc多層膜分光素子の分光性能
p.79~88
書店で探す
書誌情報
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。
- 資料種別
- 雑誌
- ISSN
- 0911-7806
- ISSN-L
- 0911-7806
- タイトル
- タイトルよみ
- Xセン ブンセキ ノ シンポ
- 巻次・部編番号
- (32) 20010300
- 著者・編者
- 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
- シリーズタイトル
- 著者標目
- 日本分析化学会X線分析研究懇談会 ニホン ブンセキ カガクカイ Xセン ブンセキ ケンキュウ コンダンカイ
- 出版事項