電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication EngineersC 71(10)(250)

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 電子情報通信学会論文誌
• タイトルよみ: デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ロンブンシ
• 巻次・部編番号: C; 71(10)(250)
• 部編名: エレクトロニクス
• 著者・編者: 電子情報通信学会 編
• 著者標目: 電子情報通信学会 デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ( 00258121 )典拠
• 出版事項: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版年月日等: 1988-10
• 出版年（W3CDTF）: 1988-10
• 刊行巻次・年月次: v. 70, 1号 = 229号 (Jan. 1987)-v. 71, 12号 = 252号 (1988年12月)
• 大きさ: 26cm
• 並列タイトル等: The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers; The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
• ISSN（掲載誌）: 0913-5723
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5723
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN33
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による
• DOI: 10.11501/2328306; https://doi.org/10.11501/2328306
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/2328306; https://dl.ndl.go.jp/pid/2328306
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2011-03-31
• 受理日（W3CDTF）: 2011-06-30T17:18:37+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: v. 70, 1号 = 229号 (Jan. 1987)-v. 71, 12号 = 252号 (1988年12月)
• 請求記号: Z16-607
• 原資料（JPNO）: 00055355
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/2385328; https://dl.ndl.go.jp/pid/2385328
• 改題前（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/2384449; https://dl.ndl.go.jp/pid/2384449
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

接触信頼性と接触現象小特集

接触信頼性と接触現象小特集 接触信頼性と接触現象論文小特集号の発行にあたって

接触現象と接触部品の信頼性に関する動向

高頻度繰返し微小すり接点に誘起する接点電圧

接触抵抗の分布形状に関する考察