日本酸素技報(16)

• 資料種別: 雑誌
• ISSN: 0914-8280
• ISSN-L: 0914-8280
• タイトル: 日本酸素技報
• タイトルよみ: ニホン サンソ ギホウ
• 巻次・部編番号: (16)
• 著者標目: 日本酸素株式会社 ニホン サンソ カブシキ ガイシャ ( 00294519 )典拠
• 出版事項: 川崎 : 日本酸素技術本部「日本酸素技報」編集事務局
• 出版年月日等: 1997-12
• 出版年（W3CDTF）: 1997-12
• 刊行巻次・年月次: No.1(1982)-no.22(2003)
• 大きさ: 30cm
• 並列タイトル等: Nippon Sanso engineering report
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZP8
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 出版地の変更あり
• DOI: 10.11501/3328277; https://doi.org/10.11501/3328277
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/3328277; https://dl.ndl.go.jp/pid/3328277
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2011-03-31
• 受理日（W3CDTF）: 2012-01-30T11:15:16+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: No.1(1982)-no.22(2003)
• 請求記号: Z17-1192
• 原資料（JPNO）: 00070697
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/3380882; https://dl.ndl.go.jp/pid/3380882
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

APIMSによる高純度酸素中のpptレベルの水分高感度計測法

半導体料ガス中のppbレベルの水分分析法

腐食性ガス中の金属不純物の分析

横型三層流GaN-OCVD装置(SR-2000)による窒化物半導体薄膜の成長

塩素処理による多孔性炭素材料の高性能化