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目次
27(3) (通号 143) 2005.5
- 展望 信頼性を測る
p.160~186
- 探索モデルを用いたソフトウェアテストの評価モデル (展望 信頼性を測る)
p.160~169
- 新製品と新サービスの信頼性を測る (展望 信頼性を測る)
p.170~177
- システムLSIの信頼性を測る (展望 信頼性を測る)
p.178~186
- 第7回確率論的安全性評価・管理に関する国際会議(PSAM7)参加報告
p.188~195
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書誌情報
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- 資料種別
- 雑誌
- ISSN
- 0919-2697
- ISSN-L
- 0919-2697
- タイトル
- タイトルよみ
- シンライセイ : ニホン シンライセイ ガッカイシ
- 巻次・部編番号
- 27巻3号(通号143) 2005年5月
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2005
- 出版年(W3CDTF)
- 2005